產(chǎn)品關(guān)鍵詞：單晶硅片測厚儀,、單晶硅片厚度檢測儀器、單晶硅片厚度測量儀器,、單晶硅片厚度測試儀

Labthink蘭光的CHY-CA改款型測厚儀,，可用于單晶硅片厚度的檢測，測試分辯率高達(dá)0.1微米,，完全滿足單晶硅片對厚度高精度測試的要求,；同時測試幅面寬度可以達(dá)到400mm，完全滿足單晶硅片整個幅面厚度測試的要求,。CHY-CA改款型測厚儀除了具備高精度,、高效率等特點外，還采用測量樣品自動前進(jìn)驅(qū)動系統(tǒng),，大大提高了測試效率,，充分滿足用戶連續(xù)高效測試的要求，并配有專業(yè)軟件支持,，操作方便,、人機(jī)交互友好。

Labthink蘭光擁有先進(jìn)的檢測技術(shù)與專業(yè)實驗室,，致力于為全球范圍醫(yī)藥,、食品、日化,、包裝,、印刷、膠粘劑,、汽車,、石化、環(huán)境,、生物,、新能源,、建筑,、航空及電子領(lǐng)域客戶提供*優(yōu)秀,、*全面的品質(zhì)控制解決方案。了解更多產(chǎn)品信息,，請致電Labthink蘭光0531-85068566,。本信息由濟(jì)南蘭光提供