EL缺陷測試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
進(jìn)口關(guān)鍵部件：采用原裝進(jìn)口紅外相機(jī)，*保*了設(shè)備的整體品質(zhì),。
全封閉式光路設(shè)計：封閉式光路設(shè)計可*保*設(shè)備長期穩(wěn)定運(yùn),，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境
強(qiáng)大專用測試軟件：全中文顯示界面，可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進(jìn)行文件保存,?？煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié)，方便判斷,。
EL缺陷測試儀應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂,、碎片、虛焊,、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。

設(shè)備主要參數(shù)

型號規(guī)格 EL140S-M

有效測試面積 1200mm X 2100mm

分辨率 140萬像素或600萬像素

靈敏度 可檢測出裂紋寬度小于0.2μm

測試時間 1s—60s自由設(shè)定

測試方式 無接觸式

電源參數(shù) 單相220V 10A *大加載電壓80V,，*大加載電流 10A

配置 測試機(jī)臺（含紅外成像儀）,、電腦、專業(yè)軟件

EL缺陷測試儀檢測原理

電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長度：

對太陽能電池加載電壓后,，使之發(fā)光,，再利用紅外成像儀攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長度,，缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散長度而發(fā)出較弱的光,，從而形成較暗的影像。

有效定位缺陷類型：

通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察,，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片,、擴(kuò)散,、刻蝕、印刷,、燒結(jié)等工藝過程存在的問題