組件缺陷檢測、EL測試儀,、EL缺陷檢測設(shè)備

產(chǎn)品特點
進(jìn)口關(guān)鍵部件：采用原裝進(jìn)口紅外相機,，*保*了設(shè)備的整體品質(zhì)。
全封閉式光路設(shè)計：封閉式光路設(shè)計可*保*設(shè)備長期穩(wěn)定運,，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境
強大專用測試軟件：全中文顯示界面,，可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進(jìn)行文件保存?？煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié),，方便判斷。
應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂,、碎片,、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象,。

設(shè)備主要參數(shù)

型號規(guī)格                                  EL140S-M

有效測試面積                            1200mm X 2100mm

分辨率                                     140萬像素,600萬像素,1200萬像素或1600萬像素

靈敏度                                     可檢測出裂紋寬度小于0.2μm

測試時間                                  1s—60s自由設(shè)定

測試方式                                  無接觸式

電源參數(shù)                                  單相220V 10A *大加載電壓80V，*大加載電流 10A

配置                                         測試機臺（含紅外成像儀）,、電腦、專業(yè)軟件

缺陷檢測原理

電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度：

對太陽能電池加載電壓后,，使之發(fā)光,，再利用紅外成像儀攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴散長度,，缺陷處因具有較低的少子擴散長度而發(fā)出較弱的光,，從而形成較暗的影像。

有效定位缺陷類型：

通過對產(chǎn)品缺陷圖像的觀察,，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片,、擴散、刻蝕,、印刷,、燒結(jié)等工藝過程存在的問題