SMT-A / SMT-B ：電池測(cè)試儀/電池組件測(cè)試儀/臥室組件測(cè)試儀　

太陽(yáng)能組件測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：　

型號(hào)規(guī)格：SMT-A   SMT-B   SMT-F　

輻照不均勻度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SMT-A）   ≤±1%（SMT-B）   ≤±0.5%（SMT-F）　

電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SMT-A）   ≤±2%（SMT-B）   ≤±1%（SMT-F）　

單次閃光時(shí)間：10ms　

光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)）　

輻照強(qiáng)度：100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)　

有效測(cè)試面積：1200mm×2000mm　

有效測(cè)試范圍：10W~300W　

測(cè)量電壓：1V~10V(分辨率1mV)　

測(cè)量電流：100mA~20A(分辨率1mA)　

測(cè)試參數(shù)：Isc ,、Voc ,、Pmax 、Vm 、Im ,、FF,、 EFF 、Temp　

數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)　

太陽(yáng)能組件測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域：專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅,、多晶硅,、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。　

其他相關(guān)設(shè)備：

1. AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器：2inch×2inch,，4inch×4inch,，6inch×6inch，8inch×8inch,，10inch×10inch,，12inch×12inch，500mm*500mm,，2000mm*1200mm,，1800mm*1500mm，1400mm*1100mm,，2200mm*1600mm, 3000mm*3000mm等（其他尺寸可定制）,；

2、AAA級(jí)組件/模組測(cè)試儀,；

3. 大面積穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器（AAA級(jí),，組件測(cè)試）,；
聯(lián)系人：陶女士

電話：027-59722666-8013

手機(jī)：15671696583

QQ:1563376021

阿里旺旺：sunic40

慧聰發(fā)發(fā)：sunic40

太陽(yáng)能組件測(cè)試儀專(zhuān)門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅,、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試,。　

通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源,，對(duì)電池組件的相關(guān)電參數(shù)進(jìn)行測(cè)量,。　

獨(dú)有的校正裝置，輸入補(bǔ)償參數(shù),，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償,，具備非接觸式自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能。　

基于Windows的操作界面,，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì),，記錄并顯示測(cè)試曲線（I-V曲線、P曲線）和測(cè)試參數(shù)（Voc,、Isc,、Pmax、Im,、Vm,、FF、EFF,、Temp）,，測(cè)試結(jié)果語(yǔ)音提示，序列號(hào)自動(dòng)生成,，保存到指定文件夾檢測(cè)范圍：

1. IV性能測(cè)量：短路電流Isc,，開(kāi)路電壓Voc，*大功率Pmax,，*大功率電流Ipmax,，*大功率電壓Vpmax，填充因子FF和轉(zhuǎn)換效率Eff等,；

2. 熱點(diǎn)分析,；

3.壽命分析；

4.標(biāo)準(zhǔn)條件測(cè)量,；

5.測(cè)量溫度范圍可控,；

6.自動(dòng)光照范圍內(nèi)光強(qiáng)均勻性測(cè)量；