微電腦高低溫老化試驗箱技術(shù)參數(shù)

1、溫度范圍：（0℃、-20℃,、-40℃,、-70℃）～+150℃

2,、濕度范圍：30～98%RH

3,、溫度均勻度≤±2.0℃

4、溫度波動度≤±0.5℃

5,、濕度波動:+2-3％RH

6,、降溫速率：0.7℃～1℃（空載狀態(tài)下）

7、升溫速率：1～3℃（空載狀態(tài)下）

微電腦高低溫老化試驗箱內(nèi)箱尺寸

型號: HL-306   內(nèi)形尺寸:H×W×D 85×60×60cm     

型號: HL -408    內(nèi)形尺寸:H×W×D 85×60×80cm    

型號: HL -1000   內(nèi)形尺寸:H×W×D 100×100×100cm

微電腦高低溫老化試驗箱制冷配置

1,、制冷壓縮機：原裝法國“泰康”全封閉活塞式低溫壓縮機

2,、蒸發(fā)器：國內(nèi)知名品牌

3、冷凝器：國內(nèi)知名品牌

4,、節(jié)流裝置：“丹麥”丹佛思熱力膨脹閥,、毛細管

5、冷媒：環(huán)保型R404,、F23,、R14

6、電磁閥：進口“意大利”電磁閥

微電腦高低溫老化試驗箱設(shè)備執(zhí)行標準：qq:2850687970

GB10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006高低溫老化試驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.3-1993 試驗Ca: 恒定濕熱試驗

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備 

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