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公司基本資料信息
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在微電子,、微機械,、微光學(xué)等領(lǐng)域,,白光干涉儀可以提供更高精度的檢測需求,。但白光干涉儀由于鏡頭視野較小,,要想測量物體整個區(qū)域的表面情況,,只能用自動拼接測量功能,,但耗時較多,,這時候可以用自動多區(qū)域測量功能,在樣品表面抽取多個測量區(qū)域進行測量,,從而對樣品進行評估分析,。
中圖儀器SuperViewW系列非接觸三維光學(xué)輪廓儀自動拼接功能的使用,即不管是在光滑還是粗糙,、平面亦或是異形結(jié)構(gòu),,當(dāng)必須測量超出適配鏡頭下的單視場區(qū)域時,都可以采用自動拼接,可根據(jù)不同表面特點進行重建算法的切換,,無論何種形貌,,都可生成3D全景。
測量方法很簡單:
1.點擊XY復(fù)位,,使得SuperViewW系列非接觸三維光學(xué)輪廓儀的鏡頭復(fù)位到載物臺中心
2.將被測物放置在載物臺夾具上,,被測物中心大致和載物臺中心重合;3.確認電機連接狀態(tài)和環(huán)境噪聲狀態(tài)滿足測量條件,;4.使用操縱桿搖桿旋鈕調(diào)節(jié)鏡頭高度,,找到干涉條紋;5.設(shè)置好掃描方式和掃描范圍,;6.點擊選項圖標(biāo),,確認自動找條紋上下限無誤;7.點擊多區(qū)域測量圖標(biāo),,可選擇方形和(橢)圓形兩種測量區(qū)域形狀,;9.根據(jù)被測物形狀和尺寸,"形狀"欄選擇“橢圓平面",,X和Y方向按需設(shè)置,;10.點擊彈出框右下角的“開始"圖標(biāo),儀器即自動完成多個區(qū)域的對焦,、找條紋,、掃面等操作。
深圳市中圖儀器股份有限公司成立十多年來,,一直堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),,歷經(jīng)了十多年的技術(shù)積累和發(fā)展實踐,,在微納米運動設(shè)計制造,、微納米顯微測量三維重建、顯微測量3D形貌分析,、大尺寸三維空間測量,、精密傳感測頭、光柵導(dǎo)軌測控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計,、制造優(yōu)勢,,具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力。