在微電子、微機械,、微光學(xué)等領(lǐng)域,，白光干涉儀可以提供更高精度的檢測需求。但白光干涉儀由于鏡頭視野較小,，要想測量物體整個區(qū)域的表面情況,，只能用自動拼接測量功能，但耗時較多,，這時候可以用自動多區(qū)域測量功能,，在樣品表面抽取多個測量區(qū)域進行測量，從而對樣品進行評估分析。

中圖儀器SuperViewW系列非接觸三維光學(xué)輪廓儀自動拼接功能的使用,，即不管是在光滑還是粗糙,、平面亦或是異形結(jié)構(gòu)，當必須測量超出適配鏡頭下的單視場區(qū)域時,，都可以采用自動拼接,，可根據(jù)不同表面特點進行重建算法的切換，無論何種形貌,，都可生成3D全景,。

測量方法很簡單：

1.點擊XY復(fù)位，使得SuperViewW系列非接觸三維光學(xué)輪廓儀的鏡頭復(fù)位到載物臺中心

2.將被測物放置在載物臺夾具上,，被測物中心大致和載物臺中心重合,；3.確認電機連接狀態(tài)和環(huán)境噪聲狀態(tài)滿足測量條件；4.使用操縱桿搖桿旋鈕調(diào)節(jié)鏡頭高度,，找到干涉條紋,；5.設(shè)置好掃描方式和掃描范圍；6.點擊選項圖標,，確認自動找條紋上下限無誤,；7.點擊多區(qū)域測量圖標，可選擇方形和（橢）圓形兩種測量區(qū)域形狀,；9.根據(jù)被測物形狀和尺寸,，"形狀"欄選擇“橢圓平面"，X和Y方向按需設(shè)置,；10.點擊彈出框右下角的“開始"圖標，儀器即自動完成多個區(qū)域的對焦,、找條紋,、掃面等操作。

深圳市中圖儀器股份有限公司成立十多年來,，一直堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),，歷經(jīng)了十多年的技術(shù)積累和發(fā)展實踐，在微納米運動設(shè)計制造,、微納米顯微測量三維重建,、顯微測量3D形貌分析、大尺寸三維空間測量,、精密傳感測頭,、光柵導(dǎo)軌測控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計、制造優(yōu)勢,，具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力,。