|
公司基本資料信息
|
ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀
關(guān)鍵詞:高低溫,,介電溫譜,,-190℃-600℃,,薄膜,,塊體
ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀是中科院聲學(xué)所研發(fā)的**一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻,、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù),、阻抗Z,、電抗X,、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G,、電納B,、電感L、介電損耗D,、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜,、介電譜曲線,。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料,、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究,。測溫范圍從-190℃-600℃,滿足目前極端條件下測試的要求,,
同時(shí)高低溫阻抗,、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺,,高溫測試夾具與WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A測量設(shè)備無縫連接,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗,、介電參數(shù)的測量與分析,。另外,還可以為用戶提供的其他LCR*牌或型號完成定制需求,。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),,通過測量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率,、電壓,、偏壓、溫度,、時(shí)間多維變化的曲線。一次測量,,同時(shí)輸出,,測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣,,是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)和研究新材料的重要測量手段,。在生產(chǎn)質(zhì)量控制和優(yōu)化上也是強(qiáng)有力的工具。
一,、產(chǎn)品特點(diǎn):
1)高溫介電溫譜儀-高溫介電測量系統(tǒng),;
2)測量精度高,控溫,,測量頻率寬,,抗交流干擾;
3)介電軟件功能強(qiáng)大,,擁有完善的測量系統(tǒng),;
4)直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值曲線;
5)直接得出復(fù)阻抗實(shí)部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖,;
6)直接得出機(jī)械品質(zhì)因數(shù)Qm,;
7)集方案、測量,、分析,、數(shù)字化顯示于一體集成化設(shè)計(jì);
8)自主研發(fā)設(shè)計(jì)電極系統(tǒng),,重復(fù)性更好,,穩(wěn)定性更高;
9)高溫,、寬頻下測量材料的介電性能,;
10)一次只能測量一個(gè)樣品,,測量準(zhǔn)確度更高;
11)高溫介電測量系統(tǒng)與安捷倫,、穩(wěn)科阻抗產(chǎn)品wan美兼容,;
12)多種溫度選型,軟件免費(fèi)升*,。
二,、主要技術(shù)參數(shù):
溫度范圍 -190℃-600℃
控溫精度 ±1℃
頻率范圍:20Hz-50MHz
測量精度:0.05%
控溫方式 連續(xù)升溫和分段升溫
測量精度 0.1℃
升溫斜率 0-10℃min(典型值3℃min)
控溫方式 PID精確控溫
顯示控制 電腦直接顯示
數(shù)據(jù)接口 USB接口
冷卻方式 液氮
降溫斜率 0-1℃/mim(典型值3℃/min)
測量精度:0.05%
測量原理:平行板電容器原理
供電:220V±10%,50Hz
工作環(huán)境:0℃-55℃
樣品尺寸:φ≤15min,d=3mm
測量方式:2線-4線測量
電極材料:鉑金
儀器尺寸:750×550×560