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GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀

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最后更新: 2024-03-13
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產品詳細說明

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀

關鍵詞:高溫介電,,溫譜,,平行板電極原理

 

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測試夾具依據國際標準ASTM D150方法設計,,采用平行板電極原理,測試電極由上下電極+保護電極組成,。上下電**有良好的同心度和平行度,,保護電極可減少周圍空氣電容的影響,使得測試數據更加準確可靠,。

2.介電溫譜儀可測量陶瓷,、薄膜、半導體等塊狀材料,可與WK6500系列,、Agilent/keysight E4990A,、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用,組成一套集實驗方案設計,、測量,、數據輸出、數據分析的三琦高溫介電溫譜測量系統(tǒng),??赏瑫r測量及輸出頻率譜、電壓譜,、偏壓譜,、溫度譜的測量數據與圖形。測試頻率為DC-30MHz,。

 

系統(tǒng)配置:

(一),、低溫模塊:

1、系統(tǒng)配置參數

系統(tǒng)采用模塊化結構,,測試主機,、溫控系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng),、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離,,易于系統(tǒng)寬展和升*。含測試計算機1臺,、信號切換與控制系統(tǒng)1臺,,低溫儀含四通道夾具1臺、6L液氮罐1個,,測試軟件1套,,

2、性能指標參數

1)溫度區(qū)間:低溫系統(tǒng)-185℃~260℃,;

2)溫度精度:±0.5 ℃

3)升溫速率:1℃/min~10℃/min,;

4)四通道測試夾具:低溫夾具為融石英與鈹銅鍍金探針復合結構夾具,探針壓力150g,,探針直徑小于3mm,,探針彈簧行程大于4mm,*證長期測試穩(wěn)定性,;

5)系統(tǒng)屏蔽:輸入端口采用四個BNC端口,;輸出端口采用10個SMA輸出端口,需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz時),;四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計,,連接線材采用射頻同軸線,,*證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性;

6)測試頻率范圍:阻抗測試范圍20Hz-10MHz, LCR測試范圍20Hz-2MHz(請依據系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表)

7)測試頻率數量:1~8個

8)測試樣品個數:4個

9)測試樣品直徑:1.5 mm~20mm

10)測試樣品厚度:0.02 mm~4mm

11)測試液氮用量:一次測試液氮使用小于1L,;

12)變溫介電頻譜測試功能,;變溫阻抗測試功能;掃頻測試功能,。

13)軟件:采用C#語言編寫,,可視化程度高,自動測試,。同時顯示四通道的測試數據,,并圖形化。

 

(二),、高溫模塊:

1,、系統(tǒng)配置參數

系統(tǒng)采用模塊化結構,測試主機,、溫控系統(tǒng),、信號采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離,,易于系統(tǒng)寬展和升*,。含測試信號切換與控制系統(tǒng)1臺,高溫儀含四通道測試夾具1臺,,測試軟件1套。

2,、性能指標參數

1)溫度區(qū)間:室溫~1000℃,;

2)溫度精度:±0.5 ℃

3)升溫速率:1℃/min~10℃/min;

4)四通道測試夾具:高溫夾具為融石英與探針復合夾具,。其中探針為氧化鋁與鉑金復合結構,,芯層為鉑金,絕緣層為氧化鋁,,屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端,,探針直徑小于3.5mm。以*證長期高溫測試穩(wěn)定性,。

5)系統(tǒng)屏蔽:輸入端口采用四個BNC端口,;輸出端口采用10個SMA輸出端口,需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz時),;四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計,,連接線材采用射頻同軸線,*證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性,;

6)測試頻率范圍:阻抗測試范圍20Hz-10MHz, LCR測試范圍20Hz-2MHz(請依據系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表)

7)測試頻率數量:1~8個

8)測試樣品個數:4個

9)測試樣品直徑:1.5 mm~20mm

10)測試樣品厚度:0.02 mm~4mm

11)變溫介電頻譜測試功能,;變溫阻抗測試功能,;掃頻測試功能。

12)軟件:采用C#語言編寫,,可視化程度高,,自動測試。同時顯示四通道的測試數據,,并圖形化,。

 

 
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