SF6氣體是SF6斷路器重要的調(diào)試項(xiàng)目，也是SF6斷路器正常運(yùn)行的關(guān)鍵,。對(duì)于運(yùn)行中的設(shè)備,，一般利用密度繼電器對(duì)SF6氣體的泄漏實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),， 一旦壓力值迅速下降或出現(xiàn)報(bào)警信號(hào)，則需要進(jìn)一步的對(duì)漏氣部位進(jìn)行查找,，以求在*短的時(shí)間內(nèi)確定漏氣部位,，為處理缺陷爭(zhēng)取時(shí)間。下面介紹一下常用的檢漏方法,。

定性檢漏

定性檢漏在現(xiàn)場(chǎng)較實(shí)用,，具體包括簡(jiǎn)易定性檢漏、壓力下降法,、分割定位法和局部蓄積法,。

(1)簡(jiǎn)易定性法,。使用一般的檢漏儀，對(duì)所有組裝的密封面,、管道連接處及其他懷疑的地方進(jìn)行檢測(cè),。方法簡(jiǎn)單，能查找較明顯的局部泄漏,。

(2)壓力下降法,。用精密壓力表測(cè)量SF6氣體壓力，隔數(shù)天或數(shù)十天進(jìn)行復(fù)測(cè),，結(jié)合溫度換算或進(jìn)行橫向比較來(lái)判斷發(fā)生的壓力下降,。

(3)分割定位法。適用于三相SF6氣路連通的斷路器,，把SF6氣體系統(tǒng)分割成幾部分后再進(jìn)行檢漏,，可減少盲目性。

(4)局部蓄積法,，用塑料布將測(cè)量部位包扎,，經(jīng)過(guò)數(shù)小時(shí)后，再用檢漏儀測(cè)量塑料布內(nèi)是否有泄漏的SF6氣體,，它是目前較常采用的定性檢漏方法,。

定量檢漏

定量檢漏法是用塑料袋將被測(cè)開(kāi)關(guān)部件或整臺(tái)開(kāi)關(guān)罩起來(lái)，經(jīng)過(guò)一定時(shí)間（例如數(shù)十小時(shí)）后,，測(cè)量塑料袋內(nèi)的SF6氣體濃度,，再根據(jù)塑料袋內(nèi)體積和包圍時(shí)間等參數(shù)來(lái)計(jì)算漏氣率。

定量檢漏有掛瓶檢漏法和局部包扎法,，應(yīng)在充氣24h后進(jìn)行,。可采用LDD2000型檢漏儀作為定量測(cè)量?jī)x,，使用安全方便,，比較理想。定量測(cè)量的判斷標(biāo)準(zhǔn)為年漏氣率不大于1%,。

運(yùn)行實(shí)踐證明,，SF6斷路器易漏部位主要有：各檢測(cè)口、焊縫,、充氣嘴,、法蘭結(jié)合面、壓力表連接管,、密封底座等,。而GIS設(shè)備的常見(jiàn)漏氣點(diǎn)有：焊縫、充氣嘴,、法蘭結(jié)合面,、壓力表。

光學(xué)成像檢漏

光學(xué)成像法是近年來(lái)興起的一項(xiàng)新技術(shù),，比較成熟的方法有激光成像法和紅外成像法,，二者都是利用SF6氣體的紅外吸收特性使泄漏氣體在視域內(nèi)清晰可見(jiàn)，能在設(shè)備帶電的情況下進(jìn)行檢測(cè),。

紅外成像法利用SF6氣體特定的紅外吸收光譜,，能使泄漏氣體清晰可見(jiàn)，進(jìn)而可以在設(shè)備運(yùn)行的狀況下進(jìn)行檢漏,，是一種較理想的檢漏手段,。但在實(shí)際情況中由于GIS設(shè)備安裝特點(diǎn)，導(dǎo)致光學(xué)成像法也存在一定的缺點(diǎn),。例如由于室內(nèi)GIS設(shè)備安裝較為緊湊,，對(duì)內(nèi)部的檢漏較為困難。對(duì)于室外GIS設(shè)備,，由于安裝高度較高,，也使得對(duì)設(shè)備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難,，加上室外風(fēng)速,、溫濕度等環(huán)境因素的影響，一些存在輕微滲漏的GIS設(shè)備就更難以用光學(xué)成像法檢測(cè)出來(lái),。

出現(xiàn)漏氣處理方式,，其一，更換配件,，更換密封,、盆子、螺栓,。**利用青島宇科公司專業(yè)SF6修復(fù)產(chǎn)品進(jìn)行在線帶壓修復(fù),，可以在盆子開(kāi)裂、密封損壞,、殼體裂紋砂眼等情況下,，直接進(jìn)行修復(fù)，宇科公司EGG修復(fù)系列為雙組份配比使用材料,，具有優(yōu)良的粘接力及高分子特有的退讓性,，可以適應(yīng)大范圍溫差變化，修復(fù)后可以漏氣點(diǎn)形成致密結(jié)實(shí)的修復(fù)層使用壽命可達(dá)10年,，是一種成熟的修復(fù)技術(shù)?，F(xiàn)已廣泛用在GIS、GIL,，電流互感器,、斷路器等,。