TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀

TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設(shè)備，該設(shè)備具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性,、脈沖(PUND),、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM),、電流-偏壓、保持力(RM),、印跡(IM)的測試功能.,，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜,、體材料和電子陶瓷,、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

TZTFE-2000薄膜鐵測試儀與探針臺配套使用,，可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試,。動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源，用戶可根據(jù)需要進行選擇,，動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz～500kHz可選,，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據(jù)用戶需要進行定制,。

TZTFE-2000薄膜鐵測試儀本測試系統(tǒng)由主控器,、探針臺、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成,。主控器集成了內(nèi)置激勵測試電源,、電荷積分器、可編程放大器,、模數(shù)轉(zhuǎn)換器,、通訊總線等功能，系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,，測試時,，無需改變測試樣品的連接，即可實現(xiàn)滯回,，脈沖,，漏電，IV等性能測試,。

本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容,，可減小寄生元件的影響,。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié),，容易定標和校準,，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度,。

本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口，對于需要做高壓測試,、高壓漏電流測試 的用戶,，可直接擴展此功能。

用戶選擇此款設(shè)備,，需向廠家提供測試頻率,、激勵測試電壓等要求。

測試功能：

· 動態(tài)電滯回線(DHM)

· I-V特性

· 脈沖(PUND)

· 靜態(tài)電滯回線(SHM)

· 疲勞(FM)

· 漏電流(LM)

· 電流-偏壓

· 保持力(RM)

· 印跡(IM)

可擴展部件：

· 探針臺

· 主要技術(shù)參數(shù)：

1.電壓范圍（內(nèi)置電壓）：±40V,，（可外接高壓放大器,，**10KV）；

2.ADC位數(shù)：18,；

3.*小電荷分辨率：≤10fC,；

4.**電荷分辨率：276μC；

5.**電滯回線測試頻率：0.03Hz~300KHz,；

6.*小電滯回線測試頻率：0.01Hz,；

7.*小脈沖寬度：1μs；

8.*小脈沖上升時間：50μs,；

9.**脈沖寬度：1μs,；

10.額定功率：≥500W；

11.設(shè)備總電源方式：AC：220V,；

12.配備JKTD型探針臺(尺寸:直徑30mm,材質(zhì)：銅,線纜：同軸線/三軸線,；)

13.漏電精度：1pA；

14.固定探針：彈簧固定/管狀固定,；

15.接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子,。

選配高壓功率放大器:

1.輸出電壓：-200～200V

2.輸出電流：-100～100mA

3.大信號帶寬：DC≥500KHz/s

4.小信號帶寬：DC≥10kHz(-3dB)

5.隨時間穩(wěn)定性：50ppm/小時；

6.隨溫度穩(wěn)定性：200℃,；

7.精度：≤0.1%滿量程,；

8.設(shè)備帶有TTL接口；

9.設(shè)備帶有遠端控制BNC接口,；

10.供電：220V,，50Hz。