主要用于航空、航天,、信息,、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表,、電工產(chǎn)品,、材料、零部件設(shè)備等在低氣壓,、高溫,、低溫或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量,。

二,、 符合標(biāo)準(zhǔn)

GJB150.3-1986     高溫試驗(yàn),；

GJB150.4-1986     低溫試驗(yàn)；

GJB150.6-1986     溫度高度試驗(yàn),；

GB/T2423.1-2008  試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法,；

GB/T2423.2-2008  試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GJB360A-1996      方法105：低氣壓試驗(yàn),；

GB/T2423.21-2008 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法,； 

GB/T2423.25-2008 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)；

GB/T2423.26-1992 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn),。