此外,，普賽斯儀表功率半導體靜態(tài)參數(shù)測試解決方案還支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作,，能夠在整個表征過程中實現(xiàn)**和可重復的器件表征。同時,，該方案還可與高低溫箱,、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求,。從pA*,、mV*高精度源表到kA*、10kV源表,，普賽斯的產(chǎn)品解決了國內(nèi)企業(yè)在半導體芯片以及第三代半導體芯片測試中的儀表國產(chǎn)化問題,，并在客戶IGBT產(chǎn)線上推出了多條測試示范線，**了國內(nèi)IGBT測試的技術潮流,。功率半導體參數(shù)測試儀就找普賽斯儀表,，詳詢18140663476

產(chǎn)品特點

 高電壓、大電流

 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(**可擴展至10kV)

 具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯(lián))

 高精度測量

  nA*漏電流, μΩ*導通電阻

  0.1%精度測量

  模塊化配置

  可根據(jù)實際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預留升*空間,后期可添加或升*測量單元

  測試效率高

  內(nèi)置專用開關矩陣,根據(jù)測試項目自動切換電路與測量單元

  支持國標全指標的一鍵測試

  擴展性好

  支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具